含硅纳米线芯片能无创诊断胎盘疾病

据英国《自然·通讯》杂志3日发表的一篇医学研究论文，中美科学家对一种名为“NanoVelcro”的芯片进行了大幅优化，新芯片包含很细的硅纳米线，可针对胎盘植入谱系（PAS）疾病进行无创早期诊断，这种疾病会导致孕产妇在分娩中死亡。 胎盘植入谱系疾病包括侵入性胎盘、植入性胎盘、穿透性胎盘，具体是指妊娠期间胎盘过度侵入子宫肌层，且在分娩时无法脱落。这会造成严重出血，甚至有时会导致孕产妇死亡。目前诊断该疾病的方法虽然也很有效，但有时依然会出现不够准确的情况，抑或是在资源匮乏的地区难以实现。 此次，包括美国加州大学洛杉矶分校、中国深圳人民医院等机构研究人员在内的团队，对之前开发的“NanoVelcro”芯片进行了优化，新芯片包含很细的硅纳米线，外部涂有能检测循环滋养层细胞（组成胎盘的细胞）的抗体。这些细胞会在胎盘发育过程中单个或聚集脱落到母体血液循环中，细胞数量的增加可能提示胎盘植入谱系疾病。 研究团队对168位孕妇进行了血检，有些